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Journée d'information«CEM» avec exposition

 

 

 

Journée d'information CEM, Morges, 2 novembre 2011

En accompagnant le développement par des tests CEM, les exigences réglementaires en matière de comptabilité électromagnétique sont prises en compte à un stade précoce du développement. Des frais et des pertes de temps inutiles peuvent être ainsi évités et le respect des exigences légales garanti. Il en résulte un «Time to market» plus rapide. Avec la «Nouvelle approche» européenne qui responsabilise les acteurs du marché eux-mêmes et selon laquelle les autorités de  surveillance du marché se limitent à des contrôles sur le marché, la prise en compte systématique de la CEM gagne en importance.

L’OFCOM (Office fédéral de la communication) expliquera le matin le point de vue de l‘autorité de surveillance, ce qui est contrôlé et quelles peuvent être les conséquences en cas d’infraction. La problématique CEM générée par la nouvelle attribution de la bande de fréquence 790-862MHz à la téléphonie mobile sera prise en exemple. L’après-midi, des experts de la pratique vous montreront comment respecter efficacement et effectivement les normes en vigueur et les valeurs limites, comment optimiser les processus et économiser des frais et les temps de développement.

Patronage                

OFCOM

               

Exposants

               

COMPUTER CONTROLS AG

    Elma Electronic AG    

Emitec AG

 

   


Linktronix AG

   

Roschi Rohde & Schwarz AG

       

 

Programme  

08.45     Enregistrement
09.15     Quelles sont les conditions de mise sur le marché et comment l’OFCOM s’assure qu’elles soient respectées?
Lucio Cocciantelli, OFCOM  (Télécharger 360 kb)
10.30     Pause
11.00     Problématique CEM entre services radio et réseaux câblés dans la bande des 800 MHz
Pascal Krähenbühl, OFCOM (Télécharger 1.1 MB)
12.15     Pause de midi
13.30     Precompliance-Measurements -  Overload risk with braodband emissions (english)
Volker Janssen, Roschi, Rohde & Schwarz AG (Télécharger 4.5 MB)
14.15     Modern signal-analyzer technology used for efficient EMI measurements (english)
Thomas Lange, Agilent Technologies (Télécharger 3.2 MB)
15.00     Pause
15.30     Solutions for  (english)
Peter Wüthrich, emitec AG (Télécharger 2.9. MB)
16.15     Solutions for EMI Diagnostic during the Development of Embedded Systems (english)
Joern Hoepfner, Tektronix GmbH (Télécharger 3 MB)
17.00     Fin de la journée d‘information CEM

 


Lieu de la journée d'information:
   
Hôtel La Longeraie, Route de La Longeraie, 1110 Morges

Accès:
   
http://www.lalongeraie.ch/crbst_19.html 

Abstracts:
   

Télécharger ici (1.4 MB)


Programme:
   

Télécharger ici (2.8 MB)

Flyer à télécharger ici (3MB)


Partenaire Media:
   

La Revue Politechnique - http://www.revue-polytechnique.ch
Megalink - http://www.megalink.ch/

Coûts:    

Par participant CHF 150.-
Membre swissT.net: par participant CHF 120.-
Dîner inclus.
La facture sert de confirmation

Inscription:     online