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Faszination Messtechnik - kostenlose Fachtagung

Am 28. September 2010 findet die Fachtagung «Faszination Messtechnik» statt.

           

Aussteller:

Messdaten und -analysen erweitern und objektivieren unsere Kenntnisse, indem sie physikalische Zusammenhänge sichtbar machen. Weitgehend unbemerkt bestimmt die Messtechnik unser tägliches Leben. Produkte werden leistungsfähiger, stabiler, langlebiger, umweltverträglicher und kosteneffizienter. Messtechnik ist dadurch für unsere Gesellschaft und den wirtschaftlichen Erfolg vieler Firmen von grundlegender Bedeutung.


Messtechnik findet meist unbemerkt in Forschung und
Entwicklung statt. Aber auch in der Produktion, Qualitätssicherung und in der Instandhaltung und Wartung liefert Messtechnik wichtige Erkenntnisse. Dabei entwickeln sich Sensoren, Messgeräte und Verfahren mit der Vielzahl von Forderungen stetig weiter.


Messtechniker sind gefordert, dieser rasanten Entwicklung zu entsprechen und ihre Kenntnisse stets an den neusten Stand der Technik anzupassen. Hier setzt die vom Schweizer Technologie Netzwerk – swissT.net veranstaltete «Table Top Ausstellung» mit dem begleitenden Expertenforum «Faszination Messtechnik» an. Ziel ist es, einen breiten Querschnitt und detailliertes Expertenwissen zu folgenden Themen auszutauschen:

    

ad+t      

Aptomet

Computer Controls

emitec

Exanovis

FHNW

HBM

imcADD

LeCroy

Linktronix

MathWorks
  • Physikalische Messtechnik
  • Elektronische Messtechnik
  • Experimentelle Messtechnik
  • Energiemesstechnik
  • Prüfstandsmesstechnik
  • Langzeit- und Zustandsüberwachung
  • Telekommunikationsmesstechnik
  • Hochfrequenzmesstechnik
  • Umweltmesstechnik
  • Sensoren und Systeme
  • Software zur Steuerung, Analyse, Darstellung und Dokumentation
  • Web-basierte Messtechnik
    

National Instruments

Neukom Electronic

QSS Quality Systems Solutions

Roschi Rohde & Schwarz

SQC

Transmetra Haltec

Programm  

      Track 1     Track 2
           
08.15     Registrierung / Kaffee / Ausstellung
09.00     Begrüssung durch Prof. Rainer Schnait, Leiter Transfer FHNW
09.05     Begrüssung durch Christian Moser, Präsident Sektion 21 "Mess-& Prüftechnik"
09.10
     Herausforderungen der Metrologie
Dr. Beat Jeckelmann, Bundesamt für Metrologie, METAS
    
09.35
     Ein Messgerät für alle Fälle – FPGAs eröffnen neue Horizonte in Messgeräten
Christoph Landmann und Luca Pretto, National Instruments		   Der Einfluss schneller Mess-Kurven Update Raten von elektronischen
Messgeräten auf die Fehlersuche in komplexen elektronischen Designs
Gerald Wacker, Roschi Rohde & Schwarz AG
10.05     Neue inovative Möglichkeiten für die schnelle Fehlersuche mit Oszilloskopen
in elektronischen Schaltungen
Martin Roggo, LeCroy SA		   Der Logikanalysator im Umfeld der FPGA Design Analyse – Welche Vorteile?
Martin Storch, Tektronix
10.30     Pause / Ausstellung
   Pause / Ausstellung
11.00     Vielkanalige Datenerfassung und Analyse mit modernen Datenrecordern –
Möglichkeiten und Grenzen
Mark Hürlemann, Neukom Electronic AG
   Fast-Prototyping Platform for Ultra Low-Power Embedded Sensing Systems
Bertrand Hochet, HES-SO/ISYS
11.30     Ultra-low power analog integrated circuit for blind source separation
Eric Fragnière, HES-SO/ISYS		   Messen auf Live Events im Broadcasting
Marco Biner, SkyMedia AG
12.00
     Mittagessen / Ausstellung
   Mittagessen / Ausstellung
13.30     Effiziente Messtechnik für hoch-flexible Prüfungen moderner Antriebsstränge
bei BMW
Jürgen Kirsche und Christof Salcher, Hottinger Baldwin Messtechnik AG
   Deep Packet Inspection/Analyse über alle OSI Layer
Matthias Lichtenegger, WildPackets/Exanovis AG
14.00     Infrarot-Thermografie – Einblick in die Infrarot Physik und die Messtechnik
Daniel Dettling, Emitec AG		   Ethercat für die schnelle, synchrone Messdatenerfassung
Kai Gilbert, imcADD AG
14.30     Pause / Ausstellung   Pause / Ausstellung
15.00     Prüfmethoden für die Qualitätssicherung in der Elektronik-Industrie
Marco Weidmann, ad+t AG		   Identifikation und Validation nichtlinearer Schwingungssysteme
Lukas Recher, FHNW
15.30     Massgeschneiderte Datenanalyse für die Messtechnik
Dr. Simon Ginsburg, The MathWorks		   Methoden zur Fehlersuche im digitalen Design mit Hilfe von Mixed Signal
Oszilloskopen und Logik Analysatoren
Dr. Thomas Kirchner, Agilent Technologies
16.00     «Messtechnik und Politik» – Überraschungsgast: Ein Mitglied des Bundesrates nimmt Mass
16.30     Apéro / Ausstellung    

 

Tagungsort:     Fachhochschule Nordwestschweiz, Klosterzelgstrasse 2, 5210 Windisch

Anreise:		    
http://www.fhnw.ch/technik/de/ueber-uns/standort/fhnw_ht_brugg-windisch.pdf

Abstracts:		    
Download hier (800 kb)

Flyer: 		   
Fachtagung Faszination Messtechnik (Download 600 kb)

Medienpartner:		    
Megalink - http://www.megalink.ch/

 

Anmeldung:

    

 

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