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Journée d'information«CEM» avec exposition

Journée d'information CEM, Yverdon-les-Bains, 4 mai 2010

                        Exposants:


En accompagnant le développement par des tests CEM, les exigences réglementaires en matière de comptabilité électromagnétique sont prises en compte à un stade précoce du développement. Des frais et des pertes de temps inutiles peuvent être ainsi évités et le respect des exigences légales garanti. Il en résulte un «Time to market» plus rapide. Avec la «Nouvelle  approche» européenne qui responsabilise les acteurs du marché eux-mêmes et selon laquelle les autorités de surveillance du marché se limitent à des contrôles sur le marché, la prise en compte systématique de la CEM gagne en importance.

L’OFCOM (Office fédéral de la communication) expliquera le matin le point de vue de l‘autorité de surveillance, ce qui est contrôlé et quelles peuvent être les conséquences en cas d’infraction. L’après-midi, des experts de la pratique vous montreront comment respecter efficacement et effectivement les normes en vigueur et les valeurs limites, comment optimiser les processus et économiser des frais et les temps de développement.

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    Elma
 

 

 

 Emitec
    Linktronix

 

 

 

  

 

 

 

 

 Roschi Rohde Schwarz
   

 

 

 Schurter

Programme Yverdon-les-Bains 

08.45     Enregistrement  
09.15     Accueil Lucio Cocciantelli - OFCOM
09.30     Quelles sont les conditions de mise sur le marché et comment l’OFCOM s’assure qu’elles soient respectées? Lucio Cocciantelli - OFCOM
10.30     Pause   
11.00     Que fait l'OFCOM lorsq'un appareil ou une installation fixe pertube? Pascal Krähenbühl - OFCOM
12.15     Pause de midi  
13.30     Interference emission measurement: Standards are an important basis for decisions Volker Janssen - Roschi Rohde & Schwarz AG
14.30     Pause  
15.00     Développer avec une plus grande sécurité et plus rapidement tout en évitant des surcoûts d’améliorations ultérieures en s’accompagnant de tests CEM. Erwin Stoll - Emitec SA
15.30     Mesures&tests CEM – vue d’ensemble des systèmes de mesures CEM (domaines d’application, configurations principales de postes de mesures /réalisation de mesures, rapports coûts /bénéfices). Erwin Stoll - Emitec SA
16.00     Fin de la journée d'information  

 

Lieu de la journée d'information:     Y-parc, Yverdon-les-Bains

Accés:		    
http://www.y-parc.ch

Abstracts:		    


 Télécharger ici (150 kb)
Présentations /
Documentation:		    

OFCOM - Lucio Cocciantelli: Quelles sont les conditions de mise sur le marché et comment l’OFCOM s’assure qu’elles soient respectées? (Télécharger 250 kb)

OFCOM - Pascal Krähenbühl: Que fait l'OFCOM lorsq'un appareil ou une installation fixe pertube? (Télécharger 2 MB)

Roschi Rohde & Schwarz AG - Volker Janssen: Interference emission measurement: Standards are an important basis for decisions (Télécharger  4 MB)

Emitec SA - Erwin Stoll: Développer avec une plus grande sécurité et plus rapidement tout en évitant des surcoûts d’améliorations ultérieures en s’accompagnant de tests CEM. (Télécharger 1.8 MB)

Emitec SA - Erwin Stoll: Mesures&tests CEM – vue d’ensemble des systèmes de mesures CEM (domaines d’application, configurations principales de postes de mesures /réalisation de mesures, rapports coûts /bénéfices). (Télécharger 10 MB)

Flyer:		    
Journée d'information (Télécharger 650 kb)

Partenaire Media:		    

La Revue Politechnique - http://www.revue-polytechnique.ch
Megalink - http://www.megalink.ch/